半导体冷热台与各类显微镜、光谱仪、扫描电镜等光学仪器设备联用，进行变温下的光学观察及测试。 实现样品开放式 / 气密 / 真空环境下的变温光学观察及测试。
半导体冷热台采用半导体冷热控制，配合循坏水散热，实现从-30~150℃（选型）的控温。可以实现变温光学测试，或者选配探针实现变温电学测试。
二、仪器主要技术参数：
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型号 |
CKL120 - 30 |
CKL150 -30 |
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冷热方式 |
半导体，配低温循环水 |
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温控范围 |
-30~120℃（可定制） |
-30~150℃（可定制） |
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温度稳定性 |
±0.1（可定制） |
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温度分辨率 |
0.1℃ |
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升降温速率 |
0~10℃/min（可调） |
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温控方式 |
PID |
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温度传感器 |
PT100 |
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光路* |
反射光路（可升级为透射光路，可定制） |
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视窗材质* |
石英玻璃（可定制） |
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视窗尺寸* |
Φ25mm（可定制） |
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物镜工作距离* |
4mm（可定制） |
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透光孔* |
默认无透光孔（可升级透光孔（1.7mm），可定制） |
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样品台尺寸* |
45×45mm（可定制） |
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样品台材质* |
铜质（可定制） |
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样品腔高度* |
3mm（可定制） |
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腔室* |
气密（可升级真空，可定制） |
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