XRD原位冷热台是X射线衍射仪的一款多功能变温附件，可在-190℃至600℃或室温至1200℃的宽温度区间内，实现对样品结构的高低温XRD原位分析。
一、仪器介绍：
XRD原位冷热台是X射线衍射仪的一款多功能变温附件，可在-190℃至600℃或室温至1200℃的宽温度区间内，实现对样品结构的高低温XRD原位分析。
该设备支持在空气、惰性气氛或真空等多种环境条件下进行测试，适用于粉末、片状等不同类型样品在变温过程中的结构演变研究。同时，该冷热台具备良好的兼容性，可根据用户使用的X射线衍射仪型号（如布鲁克、赛默飞、理学等品牌）定制样品架，实现快速适配与集成。
二、仪器主要技术参数：
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型号 |
CKL600-190-XR |
CKR1200-XR |
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制冷方式 |
液氮制冷 |
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加热方式 |
电阻加热 |
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温控方式 |
PID |
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温度传感器 |
PT100/热电偶 |
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温控范围 |
-190~600℃（可定制） |
室温~1200℃（可定制） |
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控温精度 |
±0.1℃ |
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升温速率 |
0.1～20℃/min |
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降温速率 |
0.1～20℃/min |
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样品台尺寸 |
23×23mm |
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样品台材质 |
不锈钢 |
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X射线透射膜 |
Kapton膜 |
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光路 |
反射 |
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外形尺寸 |
100×100×80mm |
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腔室结构 |
气密 |
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通讯接口 |
以太网（支持上位机软件控制） |
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